디자인 샘플

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연구

연구 개요

세 주제는 서로 기대고 있습니다. 좋은 소자가 부호를 살리고, 부호가 알고리즘을 돌릴 만하게 만들고, 알고리즘은 어떤 소자 오류가 중요한지 알려 줍니다.

  • 초전도 큐비트

    트랜스몬 큐비트를 설계·제작·측정하고, 큐비트의 기억을 짧게 만드는 결함과 잡음을 추적합니다.

  • 양자 오류 정정

    검사 신호로 오류를 알아채고 퍼지기 전에 고치는 표면 부호와 복호기를 연구합니다.

  • 양자 알고리즘

    지금의 잡음 많은 칩에 맞춘 변분·시뮬레이션 알고리즘을 정직한 오차 막대와 함께 시험합니다.

세 주제가 이어지는 방식

  1. 소자가 오류율과 오류의 종류를 정합니다.
  2. 오류 정정이 그 오류율을 논리 큐비트의 수명으로 바꿉니다.
  3. 알고리즘이 어떤 실패가 답을 바꾸는지 보여 주고, 다시 소자로 돌아가게 합니다.

연구 장비

희석 냉동기2대, 최저 온도 15 mK 미만, 마이크로파 선 각 48개(예시 값)
측정상온 제어 장비, 극저온 증폭기, FPGA 판독
제작학교 공동 나노팹: 전자빔 노광, 이중 각도 증착
계산복호기·시뮬레이션용 GPU 서버

장비 사양은 샘플을 위한 예시입니다.